Journée technique
Du 15/11/2011 au 16/11/2011 - Paris
Les sources de rayonnements ionisants : des moyens très diversifiés, des applications multiples et une réglementation en évolution
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Yann BILLARAND (IRSN)
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Laurent DONADILLE (IRSN)
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Jérôme FRADIN (ASN)
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Jean-Marie FAUQUANT, Pascal MONOT (CEA)
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Sylvie RODDE (ASN)
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Isabelle CLAIRAND (IRSN)
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Henri WALASZEK (CETIM), Bruno KOWALSKI (Institut de soudure)
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David LADSOUS (IRSN)
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Jean-Louis Greffe (CHU de Charleroi)
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Bernard SEVESTRE (CEA)
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Bruno CHARPENTIER (ASN)
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Robert FAREJEAUX (France Télécom)
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Paulo PINTO (DGT)
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Gabriel MEYER (ASN)
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Jean-Gabriel LEONARD (EDF)
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Jean-Pierre VIDAL (IRSN)
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Stéphane SARTELET (AREVA)
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Jean-Pierre MARCASSOLI (AREVA)
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Pascale SCANFF (IRSN)
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Thierry LAHAYE (DGT)
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Philippe MENECHAL (ASN)
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Philippe TRANCHANT (TECHNAM INDUSTRIE)
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Laurence FUSIL (CEA)
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Gonzague ABELA (EDF)
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Philippe MOUGNARD (AREVA)
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Bruno DELILLE (SALVAREM)
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Philippe PRAT (SYCTOM)
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Sophie DAGOIS (IRSN), Jérôme FRADIN (ASN)
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